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Détection formelle de vulnérabilité crée par injection de faute au niveau binaire - un processus logiciel et une validation matérielle

L'injection de faute est une méthode bien connue pour évaluer la robustesse et détecter les vulnérabilités des systèmes. La détection des vulnérabilités créées par injection de fautes a été approchée par différentes méthodes. Dans la littérature deux approches existent: les approches logicielles et les approches matérielles. Les approches logicielles peuvent fournir une large et rapide couverture, mais ne garantissent pas la présence de vulnérabilité dans le système. Les approches matérielles sont incontestables dans leurs résultats, mais nécessitent l’utilisation de matériaux assez coûteux et un savoir-faire approfondi, qui ne permet tout de même pas dans la majorité des cas de confirmer le modèle de faute représentant l'effet créé. Dans un premier lieu, cette thèse se concentre sur l'approche logicielle et propose une approche automatisée qui emploie les techniques de la vérification formelle pour détecter des vulnérabilités créées par injection de faute au niveau binaire. L'efficacité de cette approche est montrée en l'appliquant à des algorithmes de cryptographie implémentés dans les systèmes embarqués.

Mots clés : Injection de faute, détection de vulnérabilité, model checking, méthodes formelles.

Un pot suivra en salle Valorisation à partir de 13h.

Orateur: 
NISRINE JAFRI (TAMIS)
Date: 
Lundi, 25. mars 2019 - 10:00 - 13:00
Lieu: 
IRISA Rennes, Salle Métivier
Type soutenance: 
Composition du Jury: 
  • Marie-Laure Potet : Professeur des Universités, ENSIMAG Grenoble, Rapporteur
  • Jean-Yves Marion: Professeur des Universités, Université de Lorraine Nancy, Rapporteur
  • Shivam Bhasin : Chercheur, Université Technologique de Singapour
  • Leijla Batina : Professeur des Universités, Université Radboud de Nimègue Pays Bas
  • Sylvain Guilley : Professeur des Universités, Télécom Paris-Tech, France
  • Pierre-Alain Fouque: Professeur des Universités, Université de Rennes 1
  • Annelie Heuser: Chercheur, CNRS Rennes
  • Jean-Louis Lanet : Chercheur Inria Rennes Bretagne Atlantique, Directeur de Thèse