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Sécurité des Systèmes Électroniques Embarqués

Date: 
Vendredi, 19. septembre 2014 - 10:30
Département: 
Orateur: 
Christophe Clavier (Xlim, Université Limoges) / Giorgio Di Natale (LIRMM, CNRS - Université Montpellier 2)
Lieu: 
Salle Petri/Turing

Sécurité des Systèmes Électroniques Embarqués : http://securite-elec.irisa.fr/
DGA-MI et le laboratoire IRISA organisent en coopération un séminaire mensuel à Rennes autour de la sécurité des systèmes électroniques embarqués (description des thèmes plus bas). Ce séminaire est ouvert à tous (académiques et industriels). Pour plus d'information, les annonces (calendrier partagé), les indications d'accès et les modalités pratiques, voir  http://securite-elec.irisa.fr/

Abonnement à la liste de diffusion des annonces : https://sympa.inria.fr/sympa/info/sem-secu-elec

Ce séminaire est ouvert à tous (académiques et industriels).  Afin de faciliter l'accès à la salle du séminaire, les personnes extérieures à l'IRISA et INRIA doivent s'inscrire en donnant leur nom et leur affiliation à Nadia Saintpierre (nadia.saintpierre@irisa.fr).

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     VENDREDI 19 SEPTEMBRE 2014 SALLE Petri/Turing     (2 exposés)

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10h30 - 11h30 : Christophe Clavier ( Xlim, Université Limoges )

Analyses side-channel mono-trace pour l'exponentiation RSA

Les techniques d'exponentiation les plus efficaces pour le RSA (ou de multiplication scalaire sur courbes elliptiques) sont vulnérables à des analyses de canaux auxiliaires qui permettent de retrouver la succession des opérations d'élévation au carré et de multiplication par la base. Dans cet exposé nous présenterons les méthodes d'exponentiations les plus couramment utilisées et leur vulnérabilités potentielles, puis décrirons les techniques de masquage classiques qui permettent de
sécuriser ces algorithmes. Nous nous intéresserons alors à différentes attaques récentes qui visent à neutraliser ces contre-mesures en permettant l'analyse d'une trace unique.
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11h30 - 12h30 : Giorgio Di Natale (LIRMM, CNRS - Université Montpellier 2)

Manufacturing Test of Secure Devices

Cryptographic algorithms are used to protect sensitive information when the communication medium is not secure. Unfortunately, the hardware implementation of these cryptographic algorithms allows secret key retrieval using different forms of attacks based on the observation of key-related information. Among these attacks, the exploitation of test infrastructures can be an effective attack. While users expect high quality product for secure applications (thus requiring high quality test) testing those devices faces a dilemma: how to test and, possibly, develop design-for-testability schemes providing high testability (high controllability/observability) while maintaining high security (no controllability/observability). This seminar will address these issues presenting the security weaknesses of classical DFT techniques, pros and cons of security-dedicated Design for Testability solutions, and impact of design for security techniques on testability.
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Prochaine séance : vendredi  17 octobre 10h30 - 12h30

Autres annonces et calendrier : http://securite-elec.irisa.fr/

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